PC3K-fujVer4.52主菜单说明
1Servotest
伺服测试
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1.1|Thetestimgprocedurewilldestroyalluserdatadrive|
|这个测试程序将破坏驱动器的全部使用数据|
|teststartingcylinder:xxxxxxxx|
|测试开始的柱面:xxxxxxxx|
|testendingcylinder:xxxxxxxx|
|测试结束的柱面:xxxxxxxx|
|placedefecfsto:P-List|
|放置坏道到:P-List空格健变换P-List和Glist|
|limitfogroupingintocylinders:23757|
|一个柱面超过多少个坏道就封闭:|
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2Surfacetest
表面测试(物理测试)
2.1|--------------------------------------------------------|
|teststartingcylinder:xxxxxxxxxx|
|测试开始的柱面:xxxxxxxxxx|
|testendingcylinder:xxxxxxxx|
|测试结束的柱面:xxxxxxxx|
|numberofpasses:3|
|通过的次数:3(可在1-x之间选择,默认是3)|
|numberofretryofadefect:3|
|一个坏道重复测试的次数:3(可在1-x之间选择,默认是3)|
|criticaltimetest(ms):300|
|测试的临界时间(毫秒):300(意思是停顿多少毫秒就视为坏道)|
|performwritingtest:NO|
|执行写测试:NO/YES(N)不是(y)是默认是(N)|
|useallheadswhiletesting:yes|
|当测试的时候使用全部的磁头:yes(y)是(n)是默认是(yes)|
|limitfogroupingintocylinders:232767|
|一个柱面超过多少个坏道就封闭:|
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3:Discfirmwarezone
碟片的固件地区
3.1Workwiththerom
对ROM工作
3.1.1ReviewofthediscfirmwarezoneintheROM
检看碟片固件地区的ROM版本信息
3.1.2ReadROMtofile
读ROM文件
3.1.3WriteROMfromfile
写ROM文件
3.1.4SupportedtedROMS
支持的ROM的所有型号
3.2workwithdiscfirmwarezone
对碟片固件地区工作
3.2.1Checkingofdiscfirmwarestructure
检查碟片固件结构
3.2.2discfirmwaredatawriting/reading
碟片固件数据写/读
3.2.2.1ExrtactMPfromBASE<-|
从基地提取MP
3.2.2.1.1writingtodiscdrive<-
写硬盘
3.2.2.1.1writingofmodules
写模块
3.2.2.1.2configurationpageswriting
写结构页
3.2.2.1.2writingtofolder
写文件夹
3.2.2.2AddMPtoBASE
添加MP数据库
3.2.2.3DeleteMPfromBASE
从数据库册除MP
3.3.3Readingofthemodules
读模块
3.3.4Writingofthemodules
写模块
3.3.5Regentranslator
再生变换器
3.3.6Securitysubsystem
安全子系统
3.3.8.1showsecurityinformation
显示安全信息
3.3.8.2Clearpasswords
清除密码
3.2softwarehesdsswitchingoff
用软件关闭磁头
3.3spindlestop
主轴停转
3.4workwithadaptives
4:DiscID
硬盘的身份(变硬盘的型号和容量)
5:Formatting
低级格式化
6:Logicalscanning
逻辑扫描
6.1|---------------------------------------------------------|
|initialLBAposition:x|
|初始LBA位置:X|
|finalLBAposition:xxxxxxxxxxxx|
|结束的LBA位置:xxxxxxxxxxxx|
|reversivescanning:NO|
|从后面向前面扫描:NO键入(Y)就从后面向前面扫描|
|numberofpasses:3|
|通过的次数:3(可在1-x之间选择,默认是3)|
|numberofretryofadefect:3|
|一个坏道重复测试的次数:3(可在1-x之间选择,默认是3)|
|criticaltimetest(ms):300|
|测试的临界时间(毫秒):300(意思是停顿多少毫秒就视为坏道)|
|performwritingtest:NO|
|执行写测试:NO/YES(N)不是(y)是默认是(N)|
|verifyinsteadofreading:yes|
|校验代替读:yes|
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7:S.M.A.R.T.table
S.M.A.R.T表
7.1toreviewS.M.A.R.T.table
观察S.M.A.R.T表
7.2S.M.A.R.T.parametersreset
复位S.M.A.R.T.参数
7.3toloadS.M.A.R.T.(externalmodule)
加载S.M.A.R.T.(外部模块)
8:Defectstable
坏道表
7.1toreviewdefectsteble
观察坏道表
7.2AddLBAdefects
按LBA添加坏道表
7.3AddLCHSderects
按柱面/磁头/扇区/长度添加坏道
7.4Addphysicalsector
按物理扇区添加
7.5Addphysicaltracks
添加物理磁道
7.6Groupintotracks
封闭磁道
7.7importoflogicaldefectstable
逻辑坏道表的输入
7.8Erasedefectstable
删除坏道表
9:Automaticmode
自动化模式
10:EXIT
退出